鍍層測厚儀主要有以下幾類：
1、x-射線熒光測厚儀
2、β-射線測厚儀
3、庫侖測厚儀
下面主要介紹一款x-射線熒光測厚儀

德國Compact eco X-射線熒光分析測厚儀
Compact ecoX-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能，不單性能優越，而且價錢超值，分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需數秒鐘，便能非破壞性地得到準確的測量結果，甚是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高，是五金電鍍，飾，端子等行業的. 備有Compact eco ， Compact 5 ， Mixx4 ， Mixx5等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統。
可測元素范圍：
鈦(Ti) – 鈾(U)
可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
自動測量功能：編程測量，自定測量
修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較
定量分析功能：合金成份分析
數據統計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。綜合性能：鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析：可分析三層厚度，的FP分析軟件，真正做到無厚度標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料)，為您大大節省購買標準片的成本.完全超越其他品牌的所謂FP軟件。
鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度，鍍銅藥水的銅離子濃度等)，簡單的核對方式，無需購買標準藥液。
定性定量分析：可定性分析20多種金屬元素，并可定量分析成分含量。
光譜對比功能：可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比，可確定樣品與標準件的差別，從而控制來料的純度。
統計功能：能夠將測量結果進行系統分析統計，方便有效的控制品質。